A,2.X射線靜電消除器電性能測(cè)試方法A 2,1。X射線靜電消除器電性能測(cè)試方法適用于離子化靜電消除器電性能測(cè)試 測(cè)試項(xiàng)目應(yīng)包括殘余電壓和靜電消散時(shí)間 A 2.2 測(cè)試時(shí)應(yīng)設(shè)定電壓從,1000V降到、100V 靜電消除器與充電板監(jiān)測(cè)儀之間應(yīng)相距300mm.A、2.3 充電板監(jiān)測(cè)儀應(yīng)滿足下列要求 1。靜電電壓調(diào)整范圍,1V、1020V 最大允許值偏差,1。2、靜電消散時(shí)間測(cè)試范圍1、0s,99 9s、最大允許值偏差。1.5.最小分辨率0。1s、3,充電板未通電時(shí)的最小電容為15pF.4.測(cè)試電路的總電容。20.2、pF,5 充電平板尺寸為150mm、150mm,6.接地平面接地面積不小于150mm2,A,2、4、測(cè)試條件應(yīng)符合下列要求、1,溫度應(yīng)為20。25、2,相對(duì)濕度應(yīng)為40、60,3,測(cè)試時(shí)操作人員應(yīng)穿防靜電服、防靜電鞋,并佩戴手腕帶.A.2,5。測(cè)試前準(zhǔn)備工作應(yīng)符合下列要求。1。每次試驗(yàn)開(kāi)始前X射線管燈絲應(yīng)預(yù)熱5min后 方可施加高壓,2。充電板監(jiān)測(cè)儀在高壓充電后5min內(nèi)極板電壓下降不應(yīng)超過(guò)測(cè)試電壓的10。3,在充電板監(jiān)測(cè)儀周?chē)霃?,5m范圍內(nèi)清理干擾源、4。記錄試驗(yàn)環(huán)境的溫度,濕度。A、2。6,測(cè)試方法應(yīng)符合下列要求.1、充電板監(jiān)測(cè)儀的測(cè)試點(diǎn)應(yīng)等距離均勻布放。其中測(cè)試點(diǎn)TP2應(yīng)放置于X射線軸向射線方向300mm處.圖A,2,6 2,X射線發(fā)射窗正對(duì)TP2點(diǎn)、TP2點(diǎn)的殘余電壓和靜電消散時(shí)間分別從充電板監(jiān)測(cè)儀中讀出、3,測(cè)試區(qū)域不應(yīng)有導(dǎo)致離子遠(yuǎn)離充電板監(jiān)測(cè)儀的因素 4,測(cè)試應(yīng)在一個(gè)不阻礙氣流的表面進(jìn)行、且這個(gè)表面應(yīng)是正確接地的靜電耗散性表面 5,測(cè)試期間。測(cè)試人員應(yīng)接地并站立在充電板監(jiān)測(cè)儀周?chē)霃?,5m的清理范圍之外、6,不同類(lèi)型靜電消除器的殘余電壓測(cè)試點(diǎn)和靜電消散時(shí)間測(cè)試點(diǎn)應(yīng)相同。A、2.6,靜電消除器測(cè)試圖TP1.TP12、測(cè)試點(diǎn)