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6、工藝設(shè)計(jì)6,0.1，電磁波暗室的工藝區(qū)劃應(yīng)滿足暗室體型尺寸。暗室與功能性房間之間的相對(duì)位置要求,6.0，2、暗室應(yīng)與測(cè)控間。設(shè)備間、試驗(yàn)間等相鄰。6 0。3,暗室開門位置不宜在主反射區(qū)。6.0、4 暗室布局宜自建筑的底層開始 6，0 5。暗室體型宜選擇內(nèi)壁對(duì)電磁波反射路徑既少又弱.試驗(yàn)操作安全可靠,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的體型，6,0、6，暗室內(nèi)有兩套或以上功能測(cè)試系統(tǒng)時(shí).其體型和尺寸除應(yīng)滿足各測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)量技術(shù)要求外。還應(yīng)滿足系統(tǒng)間相互耦合的隔離要求，6。0。7.長(zhǎng)方體暗室尺寸應(yīng)符合下列規(guī)定，1,內(nèi)壁長(zhǎng)度L應(yīng)按下式計(jì)算.L，L1，L2，L3，L4 6，0.7,1.式中.L1，測(cè)量距離,m。按表6。0,7計(jì)算 L2。暗室內(nèi)測(cè)量系統(tǒng)設(shè)備和受試設(shè)備在測(cè)試中 沿暗室測(cè)量縱軸方向所占據(jù)的最大尺寸之和、m L3。為滿足運(yùn)輸、維護(hù)及電磁輻射性能要求,沿測(cè)量縱軸方向增加的長(zhǎng)度 L4 暗室兩端墻壁吸波材料沿測(cè)量縱軸方向的高度和,m,表6，0 7、L1計(jì)算、2、內(nèi)壁寬度W應(yīng)按下式計(jì)算,W W1。W2，W3，6 0,7 2 式中 W 內(nèi)壁寬度，m。不宜小于0，87L1，W1 暗室內(nèi)測(cè)量系統(tǒng)設(shè)備和受試設(shè)備在測(cè)試中，沿暗室寬度方向所占據(jù)的最大尺寸，m,W2、滿足運(yùn)輸.維護(hù)和輻射特性需要。沿暗室寬度方向的空間尺寸，m、W3，暗室兩側(cè)墻壁吸波材料高度的總和.m，3、內(nèi)壁高度H應(yīng)按下式計(jì)算。并應(yīng)滿足輻射特性要求。H。H1 H2、H3.6 0，7 3、式中，H。內(nèi)壁高度、m 對(duì)于1 1，2 1.2.2.3、2類暗室,不宜小于0,87L1.H1.測(cè)量系統(tǒng)設(shè)備或受試設(shè)備的最大高度,m。H2 設(shè)備上部安裝空間尺寸.m.H3 暗室頂部吸波材料高度 m.6。0.8、錐體暗室尺寸設(shè)計(jì)應(yīng)符合下列規(guī)定、1,暗室靜區(qū)尺寸不應(yīng)小于待測(cè)天線尺寸.2.暗室長(zhǎng)方體部分寬度和高度應(yīng)相等.不應(yīng)小于暗室靜區(qū)尺寸的3倍 3,暗室長(zhǎng)方體部分長(zhǎng)度不應(yīng)小于暗室寬度和主墻吸波材料高度的和.4 錐頂角可選取20、22 5.根據(jù)本條第1款。第4款設(shè)計(jì)的錐形暗室 測(cè)量距離L1應(yīng)滿足本規(guī)范表6、0 7的遠(yuǎn)場(chǎng)條件,6 6GHz及以上頻段的錐形暗室 應(yīng)符合自由空間電波傳播幅度與相位的均勻性要求,6,0.9。正多邊柱體暗室尺寸應(yīng)符合下列規(guī)定、1，內(nèi)壁內(nèi)切圓半徑R應(yīng)按下式計(jì)算 R、L1，R2、R3.R4、6.0，9。1.式中 L1 測(cè)量距離 按本規(guī)范表6,0、7計(jì)算,對(duì)于1，1、2、1。3.2類遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量暗室、當(dāng)天線口面內(nèi)電磁波相位偏差要求小于或等于λ.8時(shí)、K值取2 對(duì)于2、2類暗室、K值可小于2。R2，測(cè)量系統(tǒng)設(shè)備與受試設(shè)備沿半徑方向的長(zhǎng)度之和.R3。滿足運(yùn)輸、維護(hù)和輻射特性需要 在半徑方向的空間尺寸。R4.吸波材料的總高度,2.高度應(yīng)按本規(guī)范式 6。0,7。3。計(jì)算 6，0、10,雷達(dá)截面緊縮場(chǎng)微波暗室。3、1類暗室。尺寸,應(yīng)與要求的靜區(qū)尺寸、測(cè)量系統(tǒng)布局 操作維護(hù)空間相協(xié)調(diào)匹配，6，0 11。除本規(guī)范表4。0.1中1、2 1 3，2 2.3，1,3 2、4.1類暗室測(cè)量系統(tǒng)在高度方向布局另有要求外、其他暗室內(nèi)部測(cè)量系統(tǒng)應(yīng)對(duì)稱布局，6.0，12、暗室靜區(qū)范圍尺寸應(yīng)大于受試設(shè)備試驗(yàn)狀態(tài)中所覆蓋的區(qū)域